1. Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices-Power
پدیدآورنده : / Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : ENGINEERING (uncategorised)|ENGINEERING, CIVIL|ENGINEERING, MULTIDISCIPLINARY&COMPUTER SCIENCE
رده :
E-BOOK
2. Power-aware testing and test strategies for low power devices
پدیدآورنده : Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, editors
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : Low voltage integrated circuits, Power supply,Low voltage integrated circuits, Testing
رده :
TK
،
7874
،.
P678
،
2010
3. Power-aware testing and test strategies for low power devices
پدیدآورنده : / Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Low voltage integrated circuits, Power supply,Low voltage integrated circuits, Testing
رده :
E-BOOK
4. Power- constrained testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : Nicolici, Nicola
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع : Testing ، Integrated circuits, Very large scale integration,Protection ، Integrated circuits, Very large scale integration,Thermal properties ، Semiconductors
رده :
TK
7874
.
75
.
N5P6
